סקירת מוצר

עיצוב לוח בדיקת מקור קריסטל מקורי של IC הוא פלטפורמת PCB לבדיקה פונקציונלית-בדיוק גבוה המשמשת לייצור אותות גבישים, אימות תדר ובדיקת מקור שעון IC. זה נועד בעיקר להעריך את היציבות ודיוק התדר של מתנדים גבישים בתנאי עומס, מתח וטמפרטורה שונים.

לוח הבדיקה משלב בדרך כלל מעגלי מתנד קריסטל, רשתות קבלי עומס, מעגלי חיץ/מגבר, ממשקי מדידת אותות ומודול פרמטרים מתכווננים. הוא מספק סביבת בדיקה סטנדרטית עבור מו"פ IC, בחירת גבישים ואימות שעון מערכת.

IC Original Crystal Test Board Design נמצא בשימוש נרחב בפיתוח שבבים, מערכות תקשורת, מערכות משובצות, מודולי RF ועיצוב מערכת שעונים-בדיוק גבוה, מה שהופך אותו לכלי הנדסי חיוני בשלב אימות התכנון האלקטרוני.

תכונות המוצר

יכולת בדיקה וניתוח של אותות גבישים-בדיוק גבוה
תומך בתאימות גבישים מרובים-(kHz – MHz – GHz הרחבה)
רעש פאזה נמוך ורכישת אותות ריצוד נמוכה
קיבולת עומס מתכווננת ועיצוב רשת תואם
תומך במספר תקני ממשק קלט שעון IC
בידוד מתח יציב ועיצוב נגד-הפרעות
מבנה מודולרי להחלפת תצורת בדיקה מהירה
מתאים לאימות מו"פ ולסביבות מעבדה

-TS1657014902

אזורי יישום

עיצוב ואימות IC
בדיקת מתנד קריסטל
אימות מקור שעון
פיתוח מערכות משובצות
בדיקת שבב תקשורת
מערכות RF ומיקרוגל
מו"פ אלקטרוניקה לצרכן
מערכות תזמון אלקטרוניקה לרכב
מערכות בקרה תעשייתיות

-INT11657014902

מפרטי מוצר (דוגמה)

פָּרִיט	מִפרָט
סוג מצע	FR4 / חומר-תדירות גבוה (אופציונלי)
טווח תדרים הפעלה	32.768 קילו-הרץ - 200 מגה-הרץ (ניתן להרחבה)
טווח קיבולת עומס	1 pF - 50 pF (ניתן להתאמה)
סוג פלט אות	CMOS / LVDS / Sine Wave
מתח אספקת חשמל	1.8V / 2.5V / 3.3V / 5V
בדיקת ממשקים	SMA / הצמד כותרת / לוח-ל-לוח
רעש פאזה	-120 dBc / Hz @ 10 kHz (אופייני)
טמפרטורת הפעלה	-40 מעלות ~ 85 מעלות
בקרת עכבה	50Ω / ניתן להתאמה אישית

יתרונות המוצר (בהשוואה לשיטות בדיקה מסורתיות)

פָּרִיט	לוח בדיקת מקור קריסטל IC	בדיקות דיסקרטיות מסורתיות
בדיקת דיוק	⭐⭐⭐⭐⭐	⭐⭐⭐
יציבות אות	⭐⭐⭐⭐⭐	⭐⭐⭐
בדיקת יעילות	⭐⭐⭐⭐⭐	⭐⭐
הֲדִירוּת	⭐⭐⭐⭐⭐	⭐⭐
שילוב מערכת	⭐⭐⭐⭐⭐	⭐⭐
ניפוי באגים גמישות	⭐⭐⭐⭐	⭐⭐⭐
תמיכה באוטומציה	⭐⭐⭐⭐	⭐⭐